VN
CN EN RU
Máy phân tích kim loại xung quanh AMMS-100 XRF
Product Summary:

Hệ thống này tích hợp huỳnh quang tia X để phân tích lên đến 30 nguyên tố kim loại và mô hình suy giảm tia beta để theo dõi khối lượng hạt. Nhưng mô-đun sẽ sử dụng cùng một mẫu di chuyển tuần tự trên máy dò và sẽ có hiệu quả đáng kể trong việc truy tìm phát thải công nghiệp.

Trích dẫn ngay
Tổng quan về sản phẩm Tính năng sản phẩm Khu vực áp dụng
Tổng quan về sản phẩm
Hệ thống này tích hợp huỳnh quang tia X để phân tích lên đến 30 nguyên tố kim loại và mô hình suy giảm tia beta để theo dõi khối lượng hạt. Nhưng mô-đun sẽ sử dụng cùng một mẫu di chuyển tuần tự trên máy dò và sẽ có hiệu quả đáng kể trong việc truy tìm phát thải công nghiệp.
Tính năng sản phẩm
  • Đo đồng thời 30 kim loại độc hại;

  • Độ lớn giới hạn phát hiện 0,01-0,1ng/m3;

  • Thử nghiệm không phá hủy mà mẫu màng có thể được bảo quản;

  • Liên kết các phép đo với thời gian trong ngày hoặc điều kiện khí tượng để theo dõi nguồn cụ thể;

  • Kết quả giám sát liên tục trong một cơ sở dữ liệu lớn có thể tiến hành mô hình hóa nguồn;

  • Không có vật tư tiêu hao ngoại trừ băng lọc thay thế, không có phân tích trong phòng thí nghiệm, kết quả giám sát trực tuyến, giảm chi phí và tiết kiệm thời gian;

Yêu cầu báo giá
Bạn có bất kỳ câu hỏi hoặc yêu cầu nào không? Điền vào biểu mẫu này để liên hệ với các chuyên gia của chúng tôi.
  • Họ và Tên*
  • Email*
  • Số điện thoại di động*
  • Tên công ty*
  • Lời nhắn*
Mã captcha*
Không thể đọc? Thử cái khác
Tôi đồng ý rằng dữ liệu của tôi từ biểu mẫu liên hệ này sẽ được thu thập và xử lý để trả lời yêu cầu của tôi.
Copyright 2020 FPI Group All Rights Reserved.浙ICP备11039119号 Powered ByHANSUN
Yêu Cầu Báo Giá
Bạn có bất kỳ câu hỏi hoặc yêu cầu nào không?
Điền vào biểu mẫu này để liên hệ với các chuyên gia của chúng tôi.
Họ và Tên *
Email *
Lời nhắn
Nộp ngay